EDX4500H合金元素檢測儀:天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準,保證測量精度,內置多條曲線,可滿足多種元素的分析需要。
EDX4500H合金元素檢測儀
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準,保證測量精度,內置多條曲線,可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行成分分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
產(chǎn)品型號:EDX 4500H
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:30秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
EDX4500H合金元素檢測儀應用領域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素)