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供應(yīng)環(huán)保Rohs分析設(shè)備

供應(yīng)環(huán)保Rohs分析設(shè)備

簡(jiǎn)要描述:

供應(yīng)環(huán)保Rohs分析設(shè)備 :針對(duì)EDX1800在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求,特別設(shè)計(jì)該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

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  • 類型:光譜儀
  • 測(cè)量范圍:硫(S)-鈾(U)
  • 測(cè)量精度:0.05%(測(cè)試含量大于96%樣品)
  • 測(cè)量時(shí)間:60-200S
  • 高壓:5-50KV
  • 管流:可調(diào)
  • 計(jì)數(shù)率:1000/S

RoHS要求中的主要測(cè)試物質(zhì)如下表:

 

限制物質(zhì)

限制含量

(Hg)

100ppm

六價(jià)鉻(Cr VI)

1000ppm

(Cd)

100ppm

(Pb)

1000ppm

多溴聯(lián)苯(PBBs)

1000ppm

多溴聯(lián)苯醚(PBDEs)

1000ppm

 

     《電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》(以下簡(jiǎn)稱《檢測(cè)方法》,標(biāo)準(zhǔn)號(hào)為 SJ/T 11365-2006)對(duì)RoHS要求中有害元素測(cè)試方法給予了限定。其中X射線熒光光譜法(XRF)作為一種快捷、方便的方法被制定為快速篩選方法。使用X射線熒光光譜法(XRF)可對(duì)鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)以及溴(Br)五種元素的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測(cè)試??墒腔?XRF的原理所獲得的結(jié)果只是元素的含量,也就是說(shuō)如果這種篩選測(cè)試得到鉻(Cr)或溴(Br)的含量,即使他們超標(biāo)也并不能代表有害物質(zhì)(Cr VI)與阻燃劑PBB和PBDE)超標(biāo),這個(gè)測(cè)試結(jié)果(指含有)只是含有相應(yīng)有害物質(zhì)的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒(méi)有這兩種有害物質(zhì)不合格的限值判斷依據(jù)的原因。

EDX1800B.jpg

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針對(duì)EDX1800在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求,特別設(shè)計(jì)該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

性能特點(diǎn)

下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

移動(dòng)樣品平臺(tái)
電制冷Si-PIN探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

公司介紹

  江蘇天瑞儀器股份有限公司是研發(fā)生產(chǎn)銷售ROHS分析儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,等離子發(fā)射光譜儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,氣相色譜儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,EDX1800E,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000,OES8000S等。

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